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微观形貌分析
双束FIB场发射扫描电子显微镜
2020-11-13 11:08:53
| 面向学科 | Helios Nanolab G3 UC/CX 是用于细胞、组织等生物样品成像的双束扫描电子显微镜：具有Dual Beam—场发射扫描电子双束（SEM）和聚焦离子束（Focused Ion Beam, FIB）：场发射电子枪，电子束加速电压可在350 V - 30 kV之间调节；Ga离子枪，离子束加速电压可在500 V – 30 kV之间调节。借助Dual Beam，FEI AutoSlicer&Viewer软件可实现生物样品在大尺度范围自动化连续断面成像（Serail Block Face Imaging），以实现亚细胞水平的高分辨率数据采集和三维重构。 |
| 样品要求 | 1) 请根据自己样品的性质及测试需求，自行查阅相关资料后，提供详细的测试条件（电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等） 2) 样品量不少于3 mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品 3) 潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通 |
| 收费标准 | 详情请咨询 |
| 测试仪器 | 仪器名称：双束FIB(FIB+场发射电镜) 仪器型号: Helios Nanolab G3 UC/CX 品牌：FEI |
| 仪器技术参数 | 场发射电子枪，电子束加速电压可在350 V - 30 kV之间调节；Ga离子枪，离子束加速电压可在500 V – 30 kV之间调节。借助Dual Beam，FEI AutoSlicer&Viewer软件可实现生物样品在大尺度范围自动化连续断面成像（Serail Block Face Imaging），以实现亚细胞水平的高分辨率数据采集和三维重构 |
