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扫描电镜测试分析
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双束FIB场发射扫描电子显微镜

2020-11-13 11:08:53
面向学科 Helios Nanolab G3 UC/CX 是用于细胞、组织等生物样品成像的双束扫描电子显微镜:具有Dual Beam—场发射扫描电子双束(SEM)和聚焦离子束(Focused Ion Beam, FIB):场发射电子枪,电子束加速电压可在350 V - 30 kV之间调节;Ga离子枪,离子束加速电压可在500 V – 30 kV之间调节。借助Dual Beam,FEI AutoSlicer&Viewer软件可实现生物样品在大尺度范围自动化连续断面成像(Serail Block Face Imaging),以实现亚细胞水平的高分辨率数据采集和三维重构。
 
样品要求 1)     请根据自己样品的性质及测试需求,自行查阅相关资料后,提供详细的测试条件(电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等)
2)     样品量不少于3 mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品

3)     潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通
收费标准 详情请咨询
测试仪器 仪器名称:双束FIB(FIB+场发射电镜)
 
仪器型号: Helios Nanolab G3 UC/CX
 
品牌:FEI
仪器技术参数 场发射电子枪,电子束加速电压可在350 V - 30 kV之间调节;Ga离子枪,离子束加速电压可在500 V – 30 kV之间调节。借助Dual Beam,FEI AutoSlicer&Viewer软件可实现生物样品在大尺度范围自动化连续断面成像(Serail Block Face Imaging),以实现亚细胞水平的高分辨率数据采集和三维重构


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