Test items科研测试
微观形貌分析
超高分辨率扫描电子显微镜SEM
2018-12-25 09:54:02| 面向学科 | 化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等 |
| 样品要求 | 粉末10mg以上干燥、非磁性样品。 |
| 测试仪器 | 仪器名称：FEI Nova Nano SEM场发射扫描电子显微镜 仪器型号：FEI Nova NanoSEM 450 生产厂家：美国FEI |
| 仪器技术参数 |
电子着陆电压：20V - 30KV； 电子束束流：0.6 pA - 200 nA； 放大倍数：29´ - 1M´； 探测器：二次电子探测器（ETD、TLD）；背散射探测器（CBS）；低真空探测器（LVD，Helix）；红外CCD。 样品室和样品台： XY: 110 ´ 110 mm；Z: 0 - 65 mm； 旋转：n ´ 360o；倾斜：-15° / +75°； 样品最大尺寸：Ø 150 mm（需旋转）； Ø 300mm（不需旋转）； 样品最大高度：85mm； 样品最大重量：500g； X射线能谱仪 最新款牛津仪器X-MaxN 型X射线能谱仪是一款使用硅漂移探测器的EDS，集成新型的探测器芯片、电子元器件和新型的包装款式，使其能够发挥新一代硅漂移探测器的性能。 能谱仪技术指标： 分辨率：133eV； 可分别的最低序数元素：Be； 采集方式：点（point）、线（line）、面（mapping）； 点采样时间：>60s； |
