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微观形貌分析
透射电子显微镜（JEOL JEM-2100）TEM
2018-12-19 09:20:51| 适用领域 | 这一设备是日本电子公司一款的透射电子显微镜，操作电压200kV，具有非常稳定的电子光学系统，可以实现STEM、 EDS和 EELS的一体化控制。JEM-2100主要特点是可以快速地获得超高分辨率图像，使原子尺度的结构分析更简便，其应用领域广泛，适用于材料科学、纳米科学和生命科学。JEM-2100透射电镜采用了高稳定性测角台，特别适用于三维重构的高角度倾斜。选配JEOL TEMography™软件，可以实现图像的自动采集、自动计算和重构、任意轴的三维显示。还可以选配x/y轴压电陶瓷控制样品台。JEM-2100采用三级独立 聚光镜系统，保证在任何束斑尺寸下有大的束流，有利于成分分析和衍射成像 |
| 面向学科 | 化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等 |
| 样品要求 | 1) 粉末：5mg以上（尽量充分研磨），固体样品需要减薄到200nm以内；量子点需要自己制备 2) 液体样品：1mL以上（无沉淀） 注意标注：样品有无磁性、毒性、挥发性等信息 |
| 测试仪器 | 仪器名称：六硼化镧透射电子显微镜 仪器型号：JEOL JEM-2100 仪器缩写：TEM 生产厂家：日本电子公司 |
| 仪器技术参数 |
点分辨率：0.19nm 线分辨率：0.14nm
加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
倾斜角：25
EDS:13 |
