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透射电镜测试分析
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透射电子显微镜FEI Tecnai G2 F20

2021-05-11 10:27:01
适用领域 1、可实现常规电镜分析术: TEM, HRTEM, STEM,电子衍射
2、配备Fischione的三维重构样品杆,可实现±70°的倾转,可用于电子断层三维重构数据的采集,该技术主要用于研究细胞、细胞器以及一些巨大超分子复合体
3、配备gatan冷冻传输样品杆,可用于冷冻样品单颗粒三维重构数据采集,该技术可以对分离纯化的颗粒壮大分子如病毒、蛋白分子或复合体等进行结构解析,形成超高分辨率图像
4、配备自动化数据收集软件,可在低剂量模式,对冷冻含水样品自动的进行高通量数据收集,减少样品的辐照损伤。单颗粒三维重构技术的EPU采集软件,电子断层扫描三维重构技术使用的Xplore3D
 
面向学科 广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学, 金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。
样品要求 1. 透射电镜不能做磁性样品,样品中不得含有铁、钴、镍等磁性样品。
2. 对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持碳膜上并且干燥。
3. 易潮解的样品,请提前真空干燥处理。
4. 高分辨样品要求厚度在10nm以下。
收费标准 可做原位冷冻,原位加热,fib,形貌,高分辨,衍射,mapping以及球差haadf,abf,adf,eels。价格视条件议
测试仪器 英文名称:Transmission Electron Microscope
仪器品牌:赛默飞
规格型号:FEI Tecnai G2 F20
技术参数 1.性能参数:
(1)电子枪:肖特基场发射电子枪;
(2)加速电压:20kV-200kV。
2.连续可调
(1)TEM:点分辨率:0.27nm;
(2)线分辨率:0.144nm;
(3)信息分辨率:0.18nm;
(4)STEM:分辨率:0.34 nm;
(5)探头:高角环形暗场探头。
 
 

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