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微观形貌分析
X射线光电子能谱仪（XPS）
2018-12-19 11:08:36| 适用领域 | 1) 用于测量表面化学组成及化学态 2) 深度剖析 3) 微区定性及半定量分析 4) 表面化学图像 |
| 面向学科 | 化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等 |
| 样品要求 | 1) 粉末样品：需要10mg以上的干燥的粉末样品 2) 固体样品：任一边长不大于1cm，厚度不超过2mm 3) 液体样品：易干燥，需要收取制样费用 4) 注意标注：样品有无磁性、毒性、挥发性、腐蚀性、放射性等信息 |
| 测试仪器 | 仪器名称：X射线光电子能谱仪 仪器型号：Thermo escalab 250Xi 生产厂家：Thermo fisher |
| 仪器技术参数 |
1) 180ο半球能量分析器
2) 能量范围：0～5,000eV 3) 单色Al Ka (hv =1486.6 eV)，功率150W ；结合能以C1s 284.8校准 4) X射线束斑面积从900μm到200μm连续可调 5) 大束斑：Ag3d5/2（FWHM＝0.50eV）强度≥400kcps；20µm束斑 ：Ag3d5/2（FWHM＝0.45eV）强度≥0.5kcps； 6) Mg/Al双阳极XPS 7) 大束斑：Ag3d5/2（FWHM＝0.8eV）强度大于650kcps 8) 快速平行成像 9) 对Ag3d5/2线扫描的最佳空间分辨率优于3 μm |
