Test items科研测试
微观形貌分析
电子能量损失图谱EELS
2019-06-28 16:32:06| 适用领域 | 专为满足各种材料科学样品和应用的性能和效率要 求 |
| 样品要求 | 制样在微栅上 最好 |
| 收费标准 | 视样品另议 |
| 测试仪器 | 仪器名称：电子能量损失图谱 仪器型号：Talos F200 F200S/F200X 仪器缩写： EELS 生产厂家：捷克 FEI公司 |
| 仪器技术参数 | Talos F200S 总束电流：>150nA 探针电流：1nA@1nm探针（200 kV） EDS系统：2 SDD无窗设计，shutter保护 能量分辨率：≤136 eV，对Mn-Kalpha和10kcps（输出） 快速EDS：像素驻留时间低至10 us Talos F200X 明场X-FEG：1.8×109 A/cm2 srad（@200kV） 总束电流：>50nA 探针电流：2nA@1nm探针（200 kV）；0.4 nA@0.31nm探针 EDS系统：2 SDD无窗设计，shutter保护 能量分辨率：≤136 eV，对Mn-Kalpha和10kcps（输出） 快速EDS：像素驻留时间低至10 us |
