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微观形貌分析
热场发射扫描电子显微镜分析（Quanta 400 FEG）
2018-12-18 16:43:521) 广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究
2) 在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析，材料断口分析和失效分析
3) 各种材料的形貌组织观察；材料实时微区成分分析
4) 快速的多元素面扫描和线扫描分布测量；晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量
5) 元素定量、定性成分分析
6) 晶体、晶粒的相鉴定
面向学科
化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等
样品要求
1) 请根据自己样品的性质及测试需求，自行查阅相关资料后，提供详细的测试条件（电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等）
2) 样品量不少于3 mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品
3) 潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通
收费标准
1) 形貌观察（无磁性） 150元/样
2) 形貌观察（磁性样） 200元/样
3) EDS能谱（随形貌2个区域） 100元/样
4) mapping 300元/样
测试仪器
仪器名称：热场发射扫描电子显微镜
仪器型号：Quanta 400 FEG
仪器缩写： SEM
生产厂家：美国FEI公司
仪器技术参数
1)加速电压200V ~ 30kV束流 >100nA分辨率(用碳膜上的金颗粒来测试)
2)高真空：1.2nm@30kV (SE)；2.5nm@30kV (BSE)；3.0nm@1kV (SE)
3)低真空：1.5nm@30kV (SE)；2.5nm@30kV (BSE)；3.0nm@3kV (SE)
4)扩展的真空模式(ESEM)：1.5nm@30kV (SE)
5)焦距范围2.5 ~ 99 mm
6)放大倍率12x (长工作距离) ~ >2,000,000x在19"LCD显示器上单一像限观察视野范围在高、低真空模式具有同样的视野范围(最大工作距离17mm)
