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微观形貌分析
紫外光电子能谱（UPS)
2019-01-05 15:38:51| 适用领域 | 在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用 |
| 样品要求 | 1) 粉末样品：需要10mg以上的干燥的粉末样品 2) 固体样品：任一边长不大于1cm，厚度不超过2mm 3) 液体样品：易干燥，需要收取制样费用 4) 注意标注：样品有无磁性、毒性、挥发性、腐蚀性、放射性等信息 |
| 测试仪器 | 仪器名称：X射线光电子能谱仪 仪器型号：Thermo escalab 250Xi 生产厂家：Thermo fisher 赛默飞 EscaLab 250Xi X射线光电子能谱仪以X射线光电子能谱为主要功能，还带有俄歇电子能谱、紫外光电子能谱、反射电子能量损失谱及离子散射谱等附件功能。 |
| 仪器技术参数 | 1) 180ο半球能量分析器 2) 能量范围：0～5,000eV 3) 单色Al Ka (hv =1486.6 eV)，功率150W ；结合能以C1s 284.8校准 4) X射线束斑面积从900μm到200μm连续可调 5) 大束斑：Ag3d5/2（FWHM＝0.50eV）强度≥400kcps；20µm束斑 ：Ag3d5/2（FWHM＝0.45eV）强度≥0.5kcps； 6) Mg/Al双阳极XPS 7) 大束斑：Ag3d5/2（FWHM＝0.8eV）强度大于650kcps 8) 快速平行成像 9) 对Ag3d5/2线扫描的最佳空间分辨率优于3 μm |
| 主要功能特点 |
1． 常规XPS，鉴别样品表面的元素种类、化学价态以及相对含量。双阳极XPS，更适合用于不同的特殊过渡金属元素的研究，如催化领域。 2． 微区XPS分析（单色化XPS），用于样品微区（＞20μm）表面成分分析，高能量分辨的化学态分析 3． 深度剖析XPS，结合离子刻蚀技术对样品（如薄膜等）进行成分深度分布分析。通过角分辨XPS还可以进行非损伤成分深度分布分析。 4． XPS成像，可以对元素或化学态进行表面面分布分析，使一些分析结果更直观。 5． 反射电子能量损失谱REELS技术，可实现氢元素的检测。 6． 离子能量损失谱ISS，可实现样品表面元素信息的检测 7． 场发射俄歇AES，可实现样品表面100nm尺寸下的元素信息检测。可以进行成分分析、形貌像分析及扫描俄歇像分析等。 8． 紫外光电子能谱（UPS），可以获得样品价带谱信息，对导体、半导体的带、带隙等分析提供主要数据。还可以分析样品逸出功等。 |
